Wenn Forschung unter die Nanohaut geht - Ein tiefer Blick in neuartige Materialien
Unter der Leitung von Wissenschaftlern der University of California Davis und dem Lawrence Berkeley National Laboratory nutzte das Team eine altbekannte Methode, die sogenannte angle-resolved photoemission, mit deren Hilfe sich die Fähigkeit eines Materials als Halbleiter, aber auch seine Leitfähigkeit und seine magnetischen Eigenschaften untersuchen lassen. Anders als bisher aber konnte das Verfahren nicht nur an der Oberfläche, sondern auch – weil nun sehr viel leistungsstärkere Strahlungsquellen zur Verfügung stehen – in der Tiefe der Materialien eingesetzt werden. Diese Ergebnisse, zu denen Eberts Arbeitsgruppe maßgebliche theoretische Beiträge lieferte, erlauben nun die detaillierte Untersuchung neuer Materialien, die etwa in der Elektronik, der Energieproduktion oder aber in der Chemie eingesetzt werden. (suwe)
Publikation: Probing bulk electronic structure with hard X-ray angle-resolved photoemission A.X. Gray et.al. Nature Materials online, 14. August 2011 doi:10.1038/nmat3089